《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志的收稿范圍和要求是什么？
來源：優(yōu)發(fā)表網(wǎng)整理 2024-09-18 10:48:49 2520人看過
《Ieee Transactions On Instrumentation And Measurement》雜志收稿范圍涵蓋工程技術(shù)全領(lǐng)域，此刊是該細分領(lǐng)域中屬于非常不錯的SCI期刊，在行業(yè)細分領(lǐng)域中學(xué)術(shù)影響力較大，專業(yè)度認可很高，所以對原創(chuàng)文章要求創(chuàng)新性較高，如果您的文章質(zhì)量很高，可以嘗試。
平均審稿速度 約6.8個月 ，影響因子指數(shù)5.6。
該期刊近期沒有被列入國際期刊預(yù)警名單，廣大學(xué)者值得一試。
具體收稿要求需聯(lián)系雜志社或者咨詢本站客服，在線客服團隊會及時為您答疑解惑，提供針對性的建議和解決方案。
出版商聯(lián)系方式：IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141
其他數(shù)據(jù)
| 是否OA開放訪問： | h-index： | 年文章數(shù)： |
| 未開放 | 100 | 2247 |
| Gold OA文章占比： | 2021-2022最新影響因子（數(shù)據(jù)來源于搜索引擎）: | 開源占比（OA被引用占比）： |
| 6.42% | 5.6 | 0.07... |
| 研究類文章占比：文章 ÷（文章 + 綜述） | 期刊收錄： | 中科院《國際期刊預(yù)警名單（試行）》名單： |
| 99.47% | SCIE | 否 |
歷年IF值(影響因子)：
歷年引文指標(biāo)和發(fā)文量：
歷年中科院JCR大類分區(qū)數(shù)據(jù)：
歷年自引數(shù)據(jù)：
發(fā)文統(tǒng)計
2023-2024國家/地區(qū)發(fā)文量統(tǒng)計：
| 國家/地區(qū) | 數(shù)量 |
| CHINA MAINLAND | 696 |
| Italy | 237 |
| USA | 215 |
| India | 144 |
| England | 101 |
| Canada | 92 |
| GERMANY (FED REP GER) | 70 |
| Spain | 53 |
| South Korea | 47 |
| Brazil | 38 |
2023-2024機構(gòu)發(fā)文量統(tǒng)計：
| 機構(gòu) | 數(shù)量 |
| INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY S... | 85 |
| CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 50 |
| XI'AN JIAOTONG UNIVERSITY | 44 |
| TSINGHUA UNIVERSITY | 42 |
| TIANJIN UNIVERSITY | 40 |
| BEIHANG UNIVERSITY | 39 |
| UNIVERSITY OF MISSOURI SYSTEM | 33 |
| HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 30 |
| SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY | 28 |
| SOUTHWEST JIAOTONG UNIVERSITY | 28 |
近年引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE SENS J | 265 |
| IEEE T IND ELECTRON | 205 |
| MEAS SCI TECHNOL | 203 |
| SENSORS-BASEL | 177 |
| IEEE T MICROW THEORY | 174 |
| METROLOGIA | 167 |
| IEEE T POWER DELIVER | 162 |
| MEASUREMENT | 151 |
| MECH SYST SIGNAL PR | 132 |
近年被引用統(tǒng)計：
| 期刊名稱 | 數(shù)量 |
| IEEE T INSTRUM MEAS | 2095 |
| IEEE ACCESS | 940 |
| SENSORS-BASEL | 761 |
| IEEE SENS J | 555 |
| MEASUREMENT | 390 |
| ENERGIES | 245 |
| APPL SCI-BASEL | 194 |
| ELECTRONICS-SWITZ | 169 |
| IEEE T IND ELECTRON | 149 |
| MEAS SCI TECHNOL | 149 |
近年文章引用統(tǒng)計：
| 文章名稱 | 數(shù)量 |
| Automatic Defect Detection of Fa... | 54 |
| Intelligent Bearing Fault Diagno... | 53 |
| Medical Image Fusion With Parame... | 43 |
| Monitoring of Large-Area IoT Sen... | 40 |
| Vibration-Based Intelligent Faul... | 34 |
| Deep Architecture for High-Speed... | 26 |
| Highly Sensitive SPR Biosensor B... | 26 |
| RideNN: A New Rider Optimization... | 25 |
| An Unsupervised-Learning-Based A... | 21 |
| A CNN-Based Defect Inspection Me... | 20 |
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