基于電子背散射衍射技術(shù)的低碳鋼原奧氏體晶界的顯示技術(shù)探討
作者：崔桂彬; 鞠新華; 尹立新; 孟楊; 溫娟 首鋼集團有限公司技術(shù)研究院; 北京100043
摘要：常規(guī)對原奧氏體晶界的顯示均采用晶界腐蝕法,但是該方法成功率不高,具有一定的局限性,且所使用的苦味酸溶液屬于危險品,因此,為了更好地顯示出原奧氏體晶界,實驗借助電子背散射衍射技術(shù)(EBSD)對低碳鋼原奧氏體晶界的顯示方法進行了詳細研究。結(jié)果表明,與常規(guī)的晶界腐蝕法相比,借助EBSD技術(shù)可以顯示原奧氏體晶界,其最佳晶界取向差在20°~50°之間,且該低碳鋼原奧氏體平均晶粒尺寸為40.02μm,與晶界腐蝕法統(tǒng)計的結(jié)果基本一致,但是對于經(jīng)過大變形的原奧氏體晶界,實驗方法并不適用,這可能與變形后馬氏體變體之間的取向差隨之變化有關(guān)。
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冶金分析雜志
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