用于高速高精度流水線ADC的開關(guān)電容比較器
作者：宋健; 張勇; 李婷 四川工程職業(yè)技術(shù)學(xué)院電氣信息工程系; 四川德陽618000; 中國電子科技集團(tuán)公司第二十四研究所; 重慶400060; 模擬集成電路國家重點實驗室; 重慶400060
摘要：在65nm CMOS工藝條件下,設(shè)計了一種用于高速高精度流水線ADC的開關(guān)電容比較器。采用單電容結(jié)構(gòu),實現(xiàn)了比較結(jié)果的最小化傳輸延遲。利用正反饋電容將采樣網(wǎng)絡(luò)的實極點調(diào)制為復(fù)極點,以減小采樣傳輸延遲。用靜態(tài)鎖存器替代高速雙尾動態(tài)鎖存器,以適應(yīng)正反饋的電容結(jié)構(gòu)。數(shù)字驅(qū)動部分采用正反饋方式,以提升傳輸速度。Spectre仿真結(jié)果表明,在14位精度下,10GHz帶寬比較器的采樣網(wǎng)絡(luò)具有與20GHz帶寬MDAC的采樣網(wǎng)絡(luò)相同的傳輸延遲,從鎖存器開始鎖存到數(shù)字驅(qū)動輸出的總傳輸延遲小于50ps。
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微電子學(xué)雜志
微電子學(xué)雜志， 雙月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：電路與系統(tǒng)設(shè)計、半導(dǎo)體器件與工藝、產(chǎn)品與可靠性、測試與封裝等。于1971年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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