泄壓孔徑對引信慢速烤燃響應(yīng)程度的影響
作者：馬楠; 牛蘭杰; 趙旭; 范晨陽 西安機電信息技術(shù)研究所; 陜西西安710065
摘要：針對引信在慢速烤燃環(huán)境下傳爆藥會發(fā)生劇烈反應(yīng)的問題,提出在引信體上設(shè)計泄壓孔的方式來降低傳爆藥的反應(yīng)程度。以中大口徑榴彈引信作為研究對象,在升溫速率為3.3℃/h條件下,分別對無泄壓孔和有泄壓孔的引信進(jìn)行慢速烤燃試驗,根據(jù)試驗后的反應(yīng)情況來判斷反應(yīng)劇烈程度。試驗結(jié)果表明,引信通過設(shè)計泄壓孔能有效降低引信在慢速烤燃條件下的反應(yīng)劇烈程度,隨著泄壓孔徑增大,反應(yīng)程度降低。為不敏感引信泄壓結(jié)構(gòu)設(shè)計提供參考。
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探測與控制學(xué)報雜志
探測與控制學(xué)報雜志， 雙月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進(jìn)性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：機電接觸探測；無線電、紅外、激光和磁近程探測；信號處理、超小型電源、安全與解除保險裝置、測試仿真等。于1979年經(jīng)新聞總署批準(zhǔn)的正規(guī)刊物。
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