等通道角擠壓制備超細(xì)晶純Ti的腐蝕性能研究
作者：李鑫; 董月成; 淡振華; 常輝; 方志剛; 郭艷華 南京工業(yè)大學(xué)材料科學(xué)與工程學(xué)院/新材料研究院; 南京211816; 南京工業(yè)大學(xué)江蘇先進(jìn)無機(jī)功能復(fù)合材料協(xié)同創(chuàng)新中心; 南京211816; 海洋裝備用金屬材料及其應(yīng)用國家重點實驗室; 鞍山114000; 海軍研究院; 北京100000
摘要：通過等通道角擠壓(ECAP)的方法制備了超細(xì)晶純Ti,利用EBSD技術(shù)研究了2~4道次樣品晶粒尺寸、基面織構(gòu)強度和大小角度晶界的變化規(guī)律。同時,采用動電位極化和EIS的方法研究不同晶粒尺寸樣品的耐模擬海水腐蝕性能。結(jié)果表明:經(jīng)過2道次ECAP,原始粗晶純Ti的晶粒尺寸和基面織構(gòu)強度減小,小角度晶界分?jǐn)?shù)急劇增加。隨著擠壓道次的增加,純Ti的晶粒尺寸繼續(xù)減小,基面織構(gòu)強度先增大后減少,小角度晶界分?jǐn)?shù)逐漸降低。相比于原始粗晶純Ti,所有ECAP制備的超細(xì)晶純Ti的腐蝕電流密度和腐蝕速率明顯降低,極化電阻增大,表現(xiàn)出更加優(yōu)異的耐海水腐蝕性能。另一方面,隨著ECAP道次的增加,純Ti的耐海水腐蝕性能并不是呈單調(diào)增加的關(guān)系,3道次試樣的耐腐蝕性能最優(yōu),這主要歸因于晶粒尺寸、基面織構(gòu)和晶界特征分布的耦合影響,其中基面織構(gòu)強度的影響占據(jù)主導(dǎo)地位。
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