廣義熵損失函數(shù)下維納過程的貝葉斯估計
作者：歐建軍; 張安; 鄢偉安 西北工業(yè)大學(xué); 西安710072; 空軍工程大學(xué); 西安710038; 華東交通大學(xué); 南昌330013
摘要：基于廣義熵損失函數(shù),分別在無信息先驗及共軛先驗分布下,獲得維納過程參數(shù)及可靠性指標的貝葉斯估計,并將其與極大似然估計、平方損失函數(shù)下的貝葉斯估計進行對比討論。仿真結(jié)果表明,廣義熵損失函數(shù)下的貝葉斯估計均方誤差最小,精度最高,同時該估計的表達式比較靈活,能夠有效刻畫過高估計和過低估計造成風(fēng)險不同的情形。
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電光與控制雜志
電光與控制雜志， 月刊，本刊重視學(xué)術(shù)導(dǎo)向，堅持科學(xué)性、學(xué)術(shù)性、先進性、創(chuàng)新性，刊載內(nèi)容涉及的欄目：學(xué)術(shù)研究、綜述與評論、工程應(yīng)用等。于1970年經(jīng)新聞總署批準的正規(guī)刊物。
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